光模块及 AOC/AEC/DAC 线缆
AI 网络爆发式的增长推动光模块及 AOC/AEC/DAC 线缆速率迭代加速，各大厂商在研发设计与量产阶段面临严峻挑战。海回科技深度贴合行业需求，推出定制化测试解决方案。
相较于传统网络测试仪，该方案精简了冗余的上层协议测试，聚焦光模块测试的核心需求，集成了全图形化界面与完整诊断工具；从而能高效支持产品验证、加速开发迭代与量产良率提升，为应对行业挑战提供关键支撑。
挑战与痛点
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研发级测试功能缺失传统网络测试仪面向系统设备，当用于光模块及AOC等测试时，既存在显著的功能冗余，又严重缺失光模块研发验证所需的核心功能。
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接口与业务兼容性不足厂商多面临多封装、多速率、多方案产品并行开发场景，传统测试仪表兼容性有限，大幅增加企业成本投入。
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CMIS 协议兼容性测试不全各厂商对 CMIS 协议的理解与实现存在差异，传统测试平台及用例覆盖不完整，导致产品兼容性与互通性风险升高。
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故障模块分析手段匮乏终端返厂故障模块诊断是行业核心痛点，如 Link Flapping 等故障缺乏专项测试分析工具，问题复现与定位往往耗时数月。
解决方案与优势
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研发设计测试最完整的前沿技术验证
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全速率、全兼容、全应用，“一机多用、降本增效”
封装全面适配：支持 QSFP-DD800、OSFP800/RHS 等主流封装测试接口，无需额外适配成本；
速率全域兼容：实现 1.6T-10G（212G PAM4-10G NRZ）全速率覆盖；
协议完整支持：全覆盖 1.6T-10G 以太网及 800G-10G OTN 协议，适配多场景测试需求；
产品类型适配：兼容 DSP/LRO (TRO)/LPO 光模块及 AOC/AEC/DAC 线缆测试；
相干光模块全覆盖：支持 800ZR-100ZR 相干光模块测试，提供专属的 800G CFP2-DCO 相干测试解决方案，助力客户抢占技术先机。
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支持各种测试拓扑搭建，覆盖了从器件到系统级的全场景验证需求
光模块自环验证测试拓扑；
光模块对打验证测试拓扑；
AOC/AEC/DAC 线缆验证测试拓扑；
光模块、AOC/AEC/DAC 线缆 Breakout 分支验证测试拓扑；
光模块、AOC/AEC/DAC 线缆与交换机互通互联验证测试拓扑。
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研发验证与故障分析的最佳工具
物理层延迟真实测试方案：区别于传统网络测试仪的测试原理，基于海回科技自主研发的物理层延迟测试，避免了测试数据受到以太网上层业务应用模式的影响，提供精准、真实、高效的测试结果；
全面的压力测试套件：集成电压调整、频率拉偏、I2C 多速率访问等各种压力测试，帮助客户快速验证和评估产品性能；
故障诊断定位利器：叠加组合多种压力测试功能，自动挂机扫描，已帮助大量客户快速复现终端故障现象并诊断出故障原因。
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最全面 CMIS 协议兼容性测试套件
覆盖全面：支持 CMIS 5.3-3.0 版本所有相关内容测试；
内容丰富：1,700+ 项功能点测试，包括寄存器属性、状态机、时间性能以及 VDM 和 CDB 等；
简洁高效：一键开启 CMIS 全功能测试，操作简单，学习成本低，极大提升测试效率；
广泛验证：已与几乎所有主流厂商的固件测试团队完成对比测试，帮助用户发现大量 CMIS 违规问题。
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产线批量生产
高效测试与成本优化
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高效批量生产
12 端口并行测试：单机可替代多台传统网络测试仪，支持 800G-100G 光模块、AOC/AEC/DAC 线缆同时测试，测试效率提升巨大；
秒级业务切换：业务模式切换时间小于 10 秒，而传统网络测试仪需要 3-5 分钟，节省了数十倍的时间；
支持多用户登录：多用户可同时登录控制仪表不同端口进行测试任务，且各用户操作互不干扰，充分利用仪表宝贵资源。
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直观便捷的操作体验
用户友好GUI：扁平化GUI界面，单页面即可完成全部测试，一键生成测试报告，降低操作人员培训成本；
全自动化测试：支持脚本控制，实现批量化测试提升效率，并保障测试结果的一致性与可重复性。
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